Metrología.cl - Noticias Metrológicas del Exterior - NIST ofrece capacitación en metrología

Varias actividades de capacitación son ofrecidas por NIST y la fechas en las que estas se realizarán se pueden obtener haciendo click aquí.

La duración promedio de cada curso es una semana y el precio es USD 1095.

Más información podrá encontrar en: http://ts.nist.gov/ts/htdocs/230/235/labtraining/TRAIN503.htm o en Document.pdf

NOTICIAS

	El año 2008 será más largo.
	"Candela" destaca las actividades de la Red Nacional de Metrología e IDIC-LCPN-Fuerza
	Artículo de Scientific American sobre la re-definición del kilogramo
	Se invita a participar en la preparación del Vocabulario Internacional de Metrología en español.
	"Candela" destaca legado de Mendeleyev
	Reunión del Grupo de Sistemas de Calidad del SIM
	Los mejores artículos del 2005 de la revista Metrologia están disponibles libremente
	Resultados de ensayo de aptitud en determinación de melamina en leche en polvo y alimentos que contienen almidón.
	"Candela" destaca la reunión de CEPAL, celebrada en Chile.
	Oferta de equipamiento para INM e Institutos Designados del SIM
	Nueva revista de instrumentación
	¿Llegó el momento de redefinir el kilogramo?
	Curso de Termometría en INDECOPI, Perú
	En este mes se emitió la primera acreditación del mundo bajo la guía ISO 34 en el marco de materiales de referencia para microbiología
	Fiesta de Verano en PTB
	Consejero de PTB recibió premio Nobel de Física 2005
	Investigador de NIST propone método mejorar la eficiencia de enfriadores de agua
	Número de "La Lettre" dedicado a la Metrología.
	Patrón para calibración de instrumentos que miden la pérdida de agua de la piel
	20 de mayo: Día Internacional de la Metrología
	Número especial de "Metrología" sobre metrología de radionuclídeos
	IEEE-Latinoamérica publicó CD Multimedia de Mediciones Eléctricas
	Libro Web de Química del NIST
	Número 9 de la publicación "Candela"
	Boletin de Asia Pacific Laboratory Accreditation Cooperation
	Fue confirmado el nombre de un nuevo director del NIST
	METCAP - Programa de acreditación en ANSI/NCSL Z540.3 sub claúsula 5.3
	NIST ofrece capacitación en metrología
	Pronto estará listo nuevo capacitor patrón desarrollado por PTB
	Reunión del Grupo de Metrología de Masa y Magnitudes Relacionadas del SIM
	OEA publicó libro sobre medidores de agua escrito por José Dajes de INDECOPI, Perú
	Nueva norma de ASTM para la calibración de instrumentos utilizados en mediciones radioactivas
	Curso de Metrología Química
	Cambio en la Vicepresidencia de PTB
	Artículo cuestiona el conocimiento actual sobre viscosidad
	Taller "Auditoría de Laboratorios de Calibración" del Grupo de Trabajo de Sistemas de Calidad del SIM (QSWG)
	Convocatoria para participar en el Grupo de Metrología Legal del SIM
	Reunión del Grupo de Trabajo de Sistemas de Calidad del SIM
	Cambios en el "checklist" utilizado por DKD en las auditorías.
	Curso a Distancia de Validación de Métodos para Análisis Químicos
	Curso virtual de Metrología
	Nuevo Director de Metrología del INTN - Paraguay
	Resultados de un estudio del INTI sobre el desempeño de lámparas de bajo consumo
	Nuevo sensor óptico de glucosa
	Workshop on the Steps to Achieve recognized Measurement Capabilities
	Oferta de cursos de metrología, a través de internet, para miembros de SIM
	Se alcanzó una temperatura cercana a 0 K en objeto relativamente grande.
	Nueva edición de ASTM E4-07
	Número de febrero de Citac news
	www.metrologie.afnor.org
	Nueva técnica para medir la constante de Boltzmann
	Reunión del Grupo de Metrología de Masa y Magnitudes Derivadas del SIM
	Las memorias del Simposio de Metrología 2006 realizado en México están disponibles gratuitamente.
	Importante cambio en requerimiento de trazabilidad por parte de FAA
	Un nuevo complejo de edificios para la metrología de Venezuela
	Publicación de Boletin No. 1 del año 2010 de INIMET
	Esta semana comenzaron varias reuniones del SIM en Barbados
	Metrologist
	Inauguración del "Centre of Excellence in Metrology for Micro and Nano Technologies"
	Banco de calibración de caudal de IBMETRO
	Nueva versión de ISO/IEC 17025
	Cierre de DKD y apertura de DAkkS
	Nuevo motor de búsqueda de BIPM
	Definición Internacional del Metro Cúbico de Gas Natural
	Boletin de Noticias de Valid Analytical Measurements (VAM)
	Nuevos Jefes del Grupo de Trabajo del MGW7 del SIM
	¿Son constantes las constantes de decaimiento nuclear?
	Intercomparaciones de IAAC
	El gobierno de Reino Unido está estudiando medidas para mejorar su sistema metrológico
	Actividades del SIM de septiembre
	Revisión del GUM
	Durante este año será discutido en la Asamblea Nacional de Venezuela el proyecto de Ley de Metrología
	La Agencia de Protección Ambiental de USA estableció mayores exigencias para el agua potable
	Nuevos SIM TC Chair y Deputy SIM TC Chair
	NCSL International measure
	Finalmente fue publicada la última versión de OIML R111-1
	Fue designado un nuevo Director del Institute for National Measurement Standards de NRC, Canadá
	Borrador de tercera edición del VIM está en proceso de aprobación.
	Luis Mussio, de LATU, fue designado Secretario Ejecutivo del JCRB
	A partir de este año las publicaciones de OIML son gratuitas.
	Está en preparación una intercomparación regional en densidad.
	NIST suministrará próximamente patrones de dureza en la escala Rockwell B
	Una selección de artículos presentados en el seminario Nanoscale 2006 están disponibles gratuitamente
	NPL ofrece a través de su página web un curso de introducción a la metrología mecánica
	Artículo sobre experiencia mexicana en la enseñanza universitaria de la Metrología