Inicio Metrologia Laboratorios Organización Servicios Enlaces




SECCIONES
Artículos
Noticias Metrológicas del Exterior
La Metrología y Yo
Libros
Cursos
Novedades de la Red Nacional de Metrología
Nuevas Normas o Recomendaciones
Otras noticias
Próximos Eventos Nacionales e Internacionales




Lunes, 06 Septiembre del 2010  
         Noticias Metrológicas del Exterior
2006.10.11
Curso de Metrología Química

Tenemos el agrado de informar que entre los días 6 y 10 de noviembre el Instituto Nacional de Metrología, Normalización y Calidad Industrial de Brasil, INMETRO, realizará un curso de Metrología Química.








El curso será en inglés y en las instalaciones de INMETRO:

Campus do Inmetro
Av. Nossa Senhora das Graças n.º50 – Prédio 6
Xérem, Duque de Caxias RJ
CEP: 25250-020

El cupo máximo es 25 participantes, y el precio de inscripción es USD 750 (USD 350 para los miembros de SIM), que incluye: coffee-breaks, almuerzo, tranporte desde Río de Janeiro y certificado.

El programa es el siguiente:

1 - INTRODUCTION
Definitions
Importance
Chemical Metrology Around the World
Challenges
Inmetro's Role
Instructor: Vanderléa de Souza

2 - VIM (1995)* with informations about the new edition
Instructor: José Carlos Valente de Oliveira

3 – INTRODUCTION TO METHOD VALIDATION
Mean and standard deviation
Comparability of variances
Distribuitions
Outliers (Dixon, Crochan, Chauvenet, Grubs)
Confidence interval
Compatibility between means
Control Charts
Compatibility between measurements results
Experimental Planning
Metrological reliability
Instructor: Renata Martins Horta Borges

4 - GUIDE TO ESTIMATE THE MEASUREMENT UNCERTAINTY
Historical about uncertainty calculation procedures
Documents to uncertainty calculation
Guide to estimate the measurement uncertainty (ISO GUM 1995)
Standard Uncertainty (type A and type B)
Combined Uncertainty
Expanded Uncertainty
Uses of ISO GUM 95 as tool for process control
Uncertainty and acceptance limits
Instructor: Paulo Roberto Guimarães Couto

5 - METROLOGICAL ASPECTS OF SPECIFIC CASES
pH measurements: traceability, pH measurement using primary system Instructor: Paulo Pachoal Borges
Electrolitical Condutivity measurements: conductivity meter calibration Instructor: Isabel Cristina S. Fraga
Gas Measurements Instructor: Valnei Smarçaro da Cunha
Fuel Measurements Instructor: Paulo Lyra Ferreira
Organic Compounds Measurements: production and certification of RM in compliance with ISO GUIDES 30 to 35. Instructor: Janaína Marques Rodrigues Caixeiro
Inorganic Analytes Measurements: Proficiency Testing in compliance with ISO GUIDES 41 part 1 and 2 .
Instructor: Thiago Oliveira Araújo


Para más información, por favor contacte a:

Vanderléa de Souza, PhD.
e-mail: vsouza@inmetro.gov.br
Chefe da Divisão de Metrologia Química - Dquim
Diretoria de Metrologia Científica e Industrial - Dimci
Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial-Inmetro
Av. Nossa Senhora das Graças, 50, Xerém, CEP 25250-020
Prédio 04 Tel/Fax: +55 21 2679-9069
Duque de Caxias, RJ
Brasil


NOTICIAS
























































































   El año 2008 será más largo.
   "Candela" destaca las actividades de la Red Nacional de Metrología e IDIC-LCPN-Fuerza
   Artículo de Scientific American sobre la re-definición del kilogramo
   Se invita a participar en la preparación del Vocabulario Internacional de Metrología en español.
   "Candela" destaca legado de Mendeleyev
   Reunión del Grupo de Sistemas de Calidad del SIM
   Los mejores artículos del 2005 de la revista Metrologia están disponibles libremente
   Resultados de ensayo de aptitud en determinación de melamina en leche en polvo y alimentos que contienen almidón.
   "Candela" destaca la reunión de CEPAL, celebrada en Chile.
   Oferta de equipamiento para INM e Institutos Designados del SIM
   Nueva revista de instrumentación
   ¿Llegó el momento de redefinir el kilogramo?
   Curso de Termometría en INDECOPI, Perú
   En este mes se emitió la primera acreditación del mundo bajo la guía ISO 34 en el marco de materiales de referencia para microbiología
   Fiesta de Verano en PTB
   Consejero de PTB recibió premio Nobel de Física 2005
   Investigador de NIST propone método mejorar la eficiencia de enfriadores de agua
   Número de "La Lettre" dedicado a la Metrología.
   Patrón para calibración de instrumentos que miden la pérdida de agua de la piel
   20 de mayo: Día Internacional de la Metrología
   Número especial de "Metrología" sobre metrología de radionuclídeos
   IEEE-Latinoamérica publicó CD Multimedia de Mediciones Eléctricas
   Libro Web de Química del NIST
   Número 9 de la publicación "Candela"
   Boletin de Asia Pacific Laboratory Accreditation Cooperation
   Fue confirmado el nombre de un nuevo director del NIST
   METCAP - Programa de acreditación en ANSI/NCSL Z540.3 sub claúsula 5.3
   NIST ofrece capacitación en metrología
   Pronto estará listo nuevo capacitor patrón desarrollado por PTB
   Reunión del Grupo de Metrología de Masa y Magnitudes Relacionadas del SIM
   OEA publicó libro sobre medidores de agua escrito por José Dajes de INDECOPI, Perú
   Nueva norma de ASTM para la calibración de instrumentos utilizados en mediciones radioactivas
   Curso de Metrología Química
   Cambio en la Vicepresidencia de PTB
   Artículo cuestiona el conocimiento actual sobre viscosidad
   Taller "Auditoría de Laboratorios de Calibración" del Grupo de Trabajo de Sistemas de Calidad del SIM (QSWG)
   Convocatoria para participar en el Grupo de Metrología Legal del SIM
   Reunión del Grupo de Trabajo de Sistemas de Calidad del SIM
   Cambios en el "checklist" utilizado por DKD en las auditorías.
   Curso a Distancia de Validación de Métodos para Análisis Químicos
   Curso virtual de Metrología
   Nuevo Director de Metrología del INTN - Paraguay
   Resultados de un estudio del INTI sobre el desempeño de lámparas de bajo consumo
   Nuevo sensor óptico de glucosa
   Workshop on the Steps to Achieve recognized Measurement Capabilities
   Oferta de cursos de metrología, a través de internet, para miembros de SIM
   Se alcanzó una temperatura cercana a 0 K en objeto relativamente grande.
   Nueva edición de ASTM E4-07
   Número de febrero de Citac news
   www.metrologie.afnor.org
   Nueva técnica para medir la constante de Boltzmann
   Reunión del Grupo de Metrología de Masa y Magnitudes Derivadas del SIM
   Las memorias del Simposio de Metrología 2006 realizado en México están disponibles gratuitamente.
   Importante cambio en requerimiento de trazabilidad por parte de FAA
   Un nuevo complejo de edificios para la metrología de Venezuela
   Publicación de Boletin No. 1 del año 2010 de INIMET
   Esta semana comenzaron varias reuniones del SIM en Barbados
   Metrologist
   Inauguración del "Centre of Excellence in Metrology for Micro and Nano Technologies"
   Banco de calibración de caudal de IBMETRO
   Nueva versión de ISO/IEC 17025
   Cierre de DKD y apertura de DAkkS
   Nuevo motor de búsqueda de BIPM
   Definición Internacional del Metro Cúbico de Gas Natural
   Boletin de Noticias de Valid Analytical Measurements (VAM)
   Nuevos Jefes del Grupo de Trabajo del MGW7 del SIM
   ¿Son constantes las constantes de decaimiento nuclear?
   Intercomparaciones de IAAC
   El gobierno de Reino Unido está estudiando medidas para mejorar su sistema metrológico
   Actividades del SIM de septiembre
   Revisión del GUM
   Durante este año será discutido en la Asamblea Nacional de Venezuela el proyecto de Ley de Metrología
   La Agencia de Protección Ambiental de USA estableció mayores exigencias para el agua potable
   Nuevos SIM TC Chair y Deputy SIM TC Chair
   NCSL International measure
   Finalmente fue publicada la última versión de OIML R111-1
   Fue designado un nuevo Director del Institute for National Measurement Standards de NRC, Canadá
   Borrador de tercera edición del VIM está en proceso de aprobación.
   Luis Mussio, de LATU, fue designado Secretario Ejecutivo del JCRB
   A partir de este año las publicaciones de OIML son gratuitas.
   Está en preparación una intercomparación regional en densidad.
   NIST suministrará próximamente patrones de dureza en la escala Rockwell B
   Una selección de artículos presentados en el seminario Nanoscale 2006 están disponibles gratuitamente
   NPL ofrece a través de su página web un curso de introducción a la metrología mecánica
   Artículo sobre experiencia mexicana en la enseñanza universitaria de la Metrología