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Viernes, 10 Septiembre del 2010  
         Próximos Eventos Nacionales e Internacionales
Marzo 22 y 23 de 2006
Reunión del QSTF en INTI, Argentina

Durante los días 22 y 23 de marzo del 2006 en Mar Buenos Aires, Argentina, se realizará la reunión del Quality System Task Force (QSTF), grupo de los INM del SIM firmantes del Acuerdo de Reconocimiento Mutuo del CIPM, con la finalidad de hacer una presentación de sus sistemas de calidad y así respaldar las mejores capacidades del medida declaradas en el marco del acuerdo .

A muy grandes rasgos, antiguamente para que las mejores capacidades de medida de un INM o instituto designado (ID) aparezcan en la base de datos del BIPM era suficiente entregar evidencia del cumplimiento de requisitos técnicos, mientras que actualmente y de manera adicional se requiere entregar evidencia asociada a la implementación de un sistema de calidad de acuerdo a ISO/IEC 17025; son procesos que corren en paralelo en el Grupo de Trabajo de la magnitud respectiva y en el QSTF.

Existen dos formas por las que un INM puede cumplir con los actuales requisitos en el marco del sistema de calidad, la primera es a través de una auto-declaración y la segunda es alcanzando una acreditación por parte de un organismo que satisfaga ISO/IEC 17011:2004; se considera que los organismos firmantes del Acuerdo de Reconocimiento Mutuo de ILAC satisfacen ese requisito.

Todos los documentos que especifican como se realiza la revisión de las CMC por parte del JCRB se pueden obtener fácilmente en http://www.bipm.fr/en/committees/jc/jcrb/documents.html.

Si algún LCPN estima conveniente realizar su presentación, es necesario que tome en consideración los documentos que están publicados en

http://www.metrologia.cl/medios/SIM09.doc (aún cuando aparece como “Draft” fue aprobado y es la última versión oficial)
http://www.metrologia.cl/medios/QSPGuide.doc


En caso de cualquier consulta sobre el proceso es posible comunicarse con el Chairman del QSTF, Dr. William Anderson (NIST, USA, william.anderson@nist.gov)

NOTICIAS




















































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