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Día Mundial de la Metrología 2016

 

 

RNM invita a la Comunidad Metrológica a la V Jornada de Metrología

30 de Noviembre de 2017

La quinta versión de las Jornadas de Metrología se desarrollará el día jueves 14 de diciembre de 2017, a partir de las 08:30 h, en el Hotel Galerías. El programa contempla dos seminarios y la presencia de expertos internacionales.

Como se ha hecho habitual, la Red Nacional de Metrología invita a todos sus clientes y a la comunidad metrológica nacional a participar de un día dedicado a la metrología y sus aplicaciones en los diversos sectores productivos del país.

Este año, la Jornada comprende el desarrollo de 2 seminarios, organizado por los integrantes de la RNM, que contarán con la presencia de expertos internacionales.

“IMPORTANCIA DE LA METROLOGÍA EN LAS MEDICIONES MEDIOAMBIENTALES”, organizado por el Instituto de Salud Pública de Chile, y “SEGUNDO SEMINARIO DE METROLOGÍA LEGAL”, organizado por CESMEC y ENAER.

El Seminario organizado por CESMEC y ENAER contará con la presencia de dos expertos internacionales, Sr. Luis Mussio Representante de la OIML y el Dr. Enrique Martinez del departamento de Termometría  del Centro Nacional de Metrología de México. Junto a ellos, el Seminario contará con la ponencia de un experto nacional, Sr. Críspulo Marmolejo, Profesor de derecho económico de la Universidad de Valparaíso.

Por su parte, el seminario organizado por ISP contará con la exposición del Sr. Rubén Verdugo Castillo, Jefe División de Fiscalización, Superintendencia del Medio Ambiente, Chile, Sr. Ing. Q. William Güin, Especialista en Metrología Química, Wide Tec Laboratory, C.A., Venezuela e Ing. Q. Nery Medrano, Especialista en Análisis Químico, Wide Tec Laboratory, C.A., Venezuela.

Esta actividad es parte del Programa “Fortalecimiento y reconocimiento de las mejores capacidades de medición en la Red Nacional de Metrología” que es desarrollado con aportes del Fondo de Innovación para la Competitividad, del Ministerio de Economía, Fomento y Turismo.

El Programa de la Jornada así como el formulario de inscripción, se encuentran disponibles en el sitio www.metrologia.cl

La actividad es gratuita y las inscripciones se recibirán en el correo metrologia@inn.cl


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