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Día Mundial de la Metrología 2016

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La Metrología detrás de la Eficiencia Energética
La Red Nacional de Metrología, a través de su Instituto Designado en Magnitudes Eléctricas asegura la trazabilidad al Sistema Internacional de Unidades (SI) de las mediciones Eléctricas que se realizan en el país

La Metrología detrás de la Eficiencia Energética

El Instituto Designado en la Magnitud Presión y Humedad a cargo de la Empresa Nacional de Aeronáutica de Chile (ENAER), aprobó sus Sistemas de gestión de Calidad en el Sistema Interamericano de Metrología (SIM)
El Instituto Designado en la magnitud Presión y Humedad , presentaron su Sistema de Gestión de la Calidad en la reunión del Grupo de Trabajo de Sistemas de Calidad (QSTF) del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), que se realizó en las dependencias del Instituto Nacional de Metrología (INM) de los Estados Unidos, National Institute of Standarts and Technology (NIST)

El Instituto Designado en la Magnitud Presión y Humedad a cargo de la Empresa Nacional de Aeronáutica de Chile (ENAER), aprobó sus Sistemas de gestión de Calidad en el Sistema Interamericano de Metrología (SIM)

Revisión por Pares entre el Centro Nacional de Metrología de México (CENAM) y el Laboratorio de Referencia Nacional en Cobre CODELCO-Chuquicamata
Con el fin de asegurar la trazabilidad de sus mediciones al sistema de internacional de unidades (SI) se ha ejecutado un programa de comparaciones por pares, en este particular caso tenemos la presencia en nuestro país de la experta del Centro Metrológico de México (CENAM) la Sra. María del Rocío Arvizu Torres de la Dirección de Metrología de Materiales

Revisión por Pares entre el Centro Nacional de Metrología de México (CENAM) y el Laboratorio de Referencia Nacional en Cobre CODELCO-Chuquicamata

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En el marco del día Mundial de la Metrología, la Red Nacional de Metrología lo invita a éste seminario que se llevará a cabo el jueves 24 de mayo de 09:00 a 13:00 en el Salón de honor de la Universidad de Santiago, USACH, casa Central.

La Red Nacional de Metrología invita a seminario: "Cuarta revolución Industrial. Impactos en las mediciones".

16 de Mayo de 2018

Cada 20 de mayo se celebra éste día en conmemoración de la firma de la Convención de Metro que tuvo lugar en París en 1875, tratado que fue suscrito por Chile en 1908.

Cada 20 de mayo se celebra éste día en conmemoración de la firma de la Convención de Metro que tuvo lugar en París en 1875, tratado que fue suscrito por Chile en 1908.
La metrología desempeña un papel central en el descubrimiento científico y la innovación, comercio, industria, mejorando la calidad de vida de las personas y aportando en la protección del medio ambiente mundial.
Los Institutos Nacionales de Metrología trabajan de forma permanente promoviendo la ciencia de las mediciones, a través del desarrollo y la validación de nuevas técnicas de medición.

En dicho contexto de trabajo y aporte, en el marco del día Mundial de la Metrología, la Red Nacional de Metrología, RNM lo invita a éste seminario que se llevará a cabo el jueves 24 de mayo de 08:30 a 13:00 en el Salón de honor de la Universidad de Santiago, USACH, casa Central.
Este Evento es Gratuito, con cupos limitados.
Para participar, confirmar asistencia con Sr. Felipe Varas al correo electrónico:
felipe.varas@inn.cl o al teléfono: (56 2) 2 24458878.

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